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AI智慧探傷非破壞檢測
智慧缺陷探傷系統
針對不同產業別之工件與識別等相關工作,進行客製化自動光學AI辨識系統開發
採AI-based的軟體與CCD整合
結合磁檢或螢檢設備,進行缺陷識別與缺陷類型原因分析
建置產品缺陷的大數據與深度學習系統平台,使企業具備產品品質的競爭優勢
磁探設備 + iCheck智慧機器人,全自動探傷解決方案
初期可減少檢驗人員工作負擔
中長期可朝向省人力與無人化,iCheck可自動執行智慧磁探與螢檢探傷
與工廠的生產系統結合,歸納分析出導致缺陷產生之原因