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磁檢配件

磁檢配件

磁檢配件

接觸銅網/接觸墊片

產品簡介:用以確保磁粉探傷中,不同大小和形狀的工件能夠和磁檢設備/磁檢系統的頭尾座的良好接觸。

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磁檢中心導棒

產品簡介:實心銅導棒能幫助磁化空心工件實現磁粉探傷之中心導體/導棒法。
符合規範:ASTM E1444,ASTM E709。

磁檢配件

磁檢接觸塊

產品簡介:對於太大或太重的工件,無法放置在磁檢設備/磁檢機系統上時,使用接觸塊進行機外檢測。將接觸塊夾持在頭尾座之間,能夠將磁化充磁電流輸出至接觸棒組或電纜上。
符合規範:ASTM E1444,ASTM E709。

磁檢配件

磁檢小工件磁化夾持接觸治具/適配器

產品簡介:使磁粉探傷設備能夠對如螺栓、螺絲等小工件進行磁粉探傷檢測。

磁檢配件

磁檢接觸棒組和磁檢連接夾頭

產品簡介:可磁化各種尺寸和形狀的工件。
符合規範:ASME BPVC,ASTM E1444,ASTM E709。

磁檢配件

磁檢離心管/梨形試管

產品簡介:用於測量螢光磁粉/懸液濃度。
符合規範:ASTM E1444,ASTM E709。

磁檢配件

磁粉液攪拌噴淋系統

產品簡介:適用於大型工件的濕式磁粉液檢測。
符合規範:ASME BPVC,ASTM E1444,ASTM E709。

磁檢配件

磁粉液/磁浴循環噴灑系統

產品簡介:適用大範圍面積工件的施灑磁粉液。

磁檢配件

透明護目鏡

產品簡介:探傷檢測作業防護UV黑光使用。

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黃色護目鏡

產品簡介:探傷檢測作業防護UV黑光使用。

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磁粉吹塵器

產品簡介:用於清除多餘的磁粉。

磁粉探傷指示器

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非校驗型10高斯計/剩磁計

產品簡介:測量磁粉探傷過程工件退磁後的剩磁。
符合規範:ASME BPVC,ASTM E709,ASTM E14449。

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校驗型20 高斯計/剩磁計

產品簡介:測量磁粉探傷過程工件退磁後的剩磁。
符合規範:NADCAP,ASME BPVC,ASTM E709,ASTM E1444。

磁檢配件

校驗型10高斯計/剩磁計(附校驗報告)

產品簡介:測量磁粉探傷過程工件退磁後的剩磁。
符合規範:NADCAP,ASME BPVC,ASTM E709,ASTM E1444。

磁粉探傷試塊/試片

磁檢配件

磁場方向指示計(磁檢八角試塊)

產品簡介:用於檢測和測量磁粉探傷過程中的磁場方向。不允許作為磁粉探傷設備的性能靈敏度驗證使用。
符合規範:ASTM E1444,ASTM E709。

磁檢配件

磁檢磁場指示器

產品簡介:用於檢測和測量磁粉探傷過程中的磁場方向。
符合規範:NADCAP,ASME BPVC,ASTM E709,ASTM E1444,ASTM E3024。

磁檢配件

磁檢QQI靈敏度試片

產品簡介:帶有人工缺陷的標準磁粉檢測試片,用以確定磁場方向和強度。
符合規範:NADCAP,AS 5371,ASME BPVC Section V Article 7,ASTM E709,ASTM E1444,ASTM E3024。

磁檢配件

磁檢磁條卡Type A MSC

產品簡介:Type A是高保磁力/磁性的磁條卡,用於評估濕式螢光磁粉探傷浴和磁粉的品質。
符合規範ASTM E1444,ASTM E709。

磁檢配件

磁檢磁條卡Type 2000 MSC

產品簡介:Type 2000磁條卡用於立即評估濕式螢光磁粉探傷浴的性能。
符合規範:ASTM E1444,ASTM E709。

磁檢配件

磁粉探傷裂紋試塊Reference Block Type 1 (MTU-3)

產品簡介:帶有人工缺陷的標準磁粉檢測試片,用以確定磁場方向和強度。
符合規範:ASTM E1444,ASTM E709。

磁檢配件

磁檢吸舉力磁軛試塊TB-10

產品簡介:交流電磁軛吸舉力測試使用。1塊10 lb,可追朔NIST。
符合規範:ASTM E1444,ASTM E709。

磁檢配件

磁檢吸舉力磁軛試塊TB-10S-4

產品簡介:直流電磁軛吸舉力測試使用。1塊10 lb,可追朔NIST。
符合規範:ASTM E1444,ASTM E709。

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磁檢吸舉力磁軛試塊TB-10S-5

產品簡介:永久磁軛吸舉力測試使用。1塊10 lb,可追朔NIST。
符合規範:ASTM E1444,ASTM E709。

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磁檢工具鋼環Tool Steel Ring AS 5282

產品簡介:用於磁粉探傷設備,以中心導棒方式進行磁檢設備之直流性能測試。用於每日磁檢設備(磁浴、黑光燈、磁場)的系統性能測試。
符合規範:NADCAP,AS 5282,ASME BPVC Section V Article 7,ASTM E709,ASTM E1444,ISO 9934,ASTM E3024。

磁檢配件

磁粉探傷測試塊

產品簡介:人工缺陷測試標準樣本。
符合規範:NAVSEA T9074-AS-GIB-010/271,ASME BPVC Section V Article 7,ASTM E709,ASTM E1444,ASTM E3024。

磁粉探傷儀表

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磁檢霍爾高斯計

產品簡介:用於直流和交流電場中的磁場強度測量。
符合規範:IEEE-1987.2,SCPI-1991,ASTM E709,ASTM E1444。

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磁檢快速斷電測試器/激磁時間測試器QB2- Plus

產品簡介:透過判斷快速斷電功能和校驗磁化時間,為磁粉探傷檢測設備提供量化的性能驗證,以提高磁粉探傷檢測品質。
符合規範:NADCAP,ASTM E709,ASTM E1444,ISO 9934,ASTM E3024。

磁檢配件

磁檢數位式電流校驗組

產品簡介:確保磁粉探傷設備的準確性和可重復性,以符合規範要求。
符合規範:NADCAP,ASTM E709,ASTM E1444,ASTM E3024,ASME BPVC Section V Article 7,ISO 9934。

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XRP-3000黑白光燈照度計

產品簡介:可同時量測紫外光與可見光強度。
符合規範:ASTM E3022,ASTM E1417,ASTM E1444,ASTM E709。

磁檢配件

黑/白光燈照度計

產品簡介:用於測量黑光燈紫外線強度和白光照度的黑光強度計和白光照度計,及紫外線保護眼鏡等。
符合規範:
黑光燈照度計-ASTM E3022,ASTM E2297,ISO 3059,ASTM A275,ASTM E165,ASTM E709,ASTM E1208 / E1209 / E1210 / E1219,ASTM E1417,ASTM E1444,ASTM E3024,ASME BPVC Section V,ISO 3452,ISO 9934,ANSI / API 6A,NADCAP AC7114/1,NADCAP AC7114/2。
白光燈照度計-ASTM E2297,ISO 3059,ASTM A275,ASTM E165,ASTM E709,ASTM E1208 / E1209 / E1210 / E1219,ASTM E1220 / E1418,ASTM E1417,ASTM E1444,ASTM E3024,ASME BPVC Section V,ISO 3452,ISO 9934,ANSI / API 6A,NADCAP AC7114/1,NADCAP AC7114/2 。

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